2011年4月28号XJTAG网络研讨会通知

亲爱的各位：

欢迎您加入风标XJTAG边界扫描网上中文研讨会

2011年4月28日(北京时间)  下午14:30-17:00

风标电子邀请您参加我们在2011年4月28日（星期四）下午14:30举办的网上研讨会。

    如今的电子系统，大量地采用了诸如PGA、BGA、SMT、MCM等高度封装器件，使得PCB上各器件之间的连线间距越来越细密。同时，数字系统中可供测试的结点间距亦越来越小，有的甚至成为隐性的不可达结点,使得基于探针的传统测试方法将难堪重任。 作为一种结构插入的可测性设计技术，边界扫描测试技术将边界扫描测试单元（Boundery-Scan Cell，BSC）插在集成电路内部每一个输入输出引脚上。BSC的作用就相当于施加测试激励和观察测试响应的内建虚拟测试探头。因此，由BS器件构成的数字系统的可测性得到了很大的提高，其测试难度也大大降低。 为此，我们必须为这些数字系统设计新的测试工具。

“工欲善其事,必先利其器”，优良的工具及合适的解决方案能使您在竞争中处于优势！XJTAG公司来自英国剑桥，是著名的边界扫描产品开发商，其XJTAG 边界扫描开发系统对电路设计与开发学习提供了一个实用的、富有竞争力及具有独特性能的解决方案。XJTAG通过早期测试开发、早期的设计验证、快速功能测试和回归使电路开发和样机成型的过程大大缩短，同时与风标公司合作开发的扩展系统，帮助各位更好地学习和了解边界扫描测试技术。

     届时会有XJTAG公司的专家、风标电子的工程师进行讲解和演示，欢迎来自各大企业的电子工程师，测试工程师等等，包括来自高校的教授们，当然我们也欢迎参会者能进行实质性地交流，欢迎各位报名参加！研讨会整体概况：

1.       公司简介

2.       XJTAG介绍

3.       XJTAG最新2.5版本介绍，包含最新更新的技术（Layout Viewer）

4.       风标边界扫描扩展系统

名额有限，希望尽快报名！

请点击下方的报名连接，马上报名。在演讲和演示之后将会有一个问答环节。

>>立即报名>>中文资料