亲爱的各位：
欢迎您加入风标XJTAG边界扫描网上中文研讨会
演讲主题:XJTAG边界测试实训室专题研讨会 (星期三）
2010年3月31日(北京时间) 下午14:30-17:00
风标电子邀请您参加我们在2010年3月31日（星期三）下午14:30举办的网上研讨会。
随着芯片管脚密度的日益增长，封装趋向微型化，无论是开发还是生产，都将面临着巨大的挑战；同时也给测试带来了困境，利用传统的测试模式无法实现，边界扫描测试技术涌现在测试行业的舞台；那么了解和学习边界扫描测试技术，变得至关重要；测试人才的培养也开始被提上日程。
“工欲善其事,必先利其器”，优良的工具及合适的解决方案能使您在竞争中处于优势！XJTAG公司来自英国剑桥，是著名的边界扫描产品开发商，其XJTAG 边界扫描开发系统对电路设计与开发学习提供了一个实用的、富有竞争力及具有独特性能的解决方案。XJTAG通过早期测试开发、早期的设计验证、快速功能测试和回归使电路开发和样机成型的过程大大缩短，同时与风标公司合作开发的扩展系统，帮助各位更好地学习和了解边界扫描测试技术。
届时会有XJTAG公司的专家、风标电子的工程师进行讲解和演示，欢迎来自各大企业的电子工程师，测试工程师等等，包括来自高校的教授们，当然我们也欢迎参会者能进行实质性地交流，欢迎各位报名参加！研讨会整体概况：
- 公司简介
- XJTAG介绍
- XJDirect技术，测试新突破
- 风标边界扫描扩展系统
名额有限，希望尽快报名！
请登录我公司网站下载报名表格：http://www.windway.cn/Download.asp
或联系我司相关负责人，Tel: +86-20-86003016 王小姐 古先生
敬祝
商祺！
