尊敬的客户：
非常感谢您一直以来对广州风标电子工作的支持！
随着微电子技术进入超大规模集成电路时代，电子电路设计越来越复杂，多层印制板、表面贴装（SMT）、圆片规模集成（WSI）和多芯片模块（MCM）在电路中的大量应用，使电路的器件布局日益复杂，电路和系统的可测试性急剧下降，测试费用在电路和系统总费用中所占的比例在不断上升；元器件的复杂的封装、密集的管脚及因电路板小型化使印制线越来越细，给电路板的线路检测、电路板故障的检查造成很大的困难，无论是在开发还是生产中，都面临着巨大的挑战，利用传统的测试模式已无法满足企业测试的要求，因此人们开始寻求更方便、更快捷的方式来替代传统的检测手段。边界扫描测试技术涌现在测试行业的舞台。
如何弥补现有检测手段的不足？
如何缩短产品的研制周期？
如何让测试贯穿产品的整个生命周期？
为了响应广大客户的要求，本公司特此于2010年9月2号在北京清华大学举办XJTAG边界扫描测试技术workshop，欢迎来自研究所、高校、开发企业和CEM（电子制造商）的硬件开发、测试工程师和项目主管参加，我们也欢迎您把您的测试难题带来进行交流。届时会有XJTAG专家以及工程师进行课程讲解和测试工程演示，有意者请尽快报名参与。
请参会人员自备电脑，我们将提供XJTAG产品给大家现场体验（两人一套）。
主办单位：广州市风标电子技术有限公司
英 国 XJTAG公 司
workshop整体概况：
- 公司简介
- XJTAG介绍
- XJDirect技术，测试新突破
- 风标边界扫描扩展系统
- 测试工程演示与用户现场体验
名额有限，希望尽快报名！
请登录我公司网站下载报名表格：http://www.windway.cn/UploadFiles/2010811113446575.doc
或联系我司相关负责人：Tel: +86-20-86003016 罗先生
